WDD レーザ溶接欠陥検出装置

WDD · レーザ溶接欠陥検出装置

In-Process Diagnostic System

レーザ溶接欠陥検出装置

レーザ溶接中に発生する金属蒸気、レーザ反射光、溶融池の熱放射などの光信号は、溶接状態や欠陥の兆候を反映します。レーザ溶接欠陥検出装置（WDD）は、光電センサによりこれらの光信号を電気信号に変換し、解析によって溶接欠陥に関する情報を抽出します。これにより、欠陥検出と品質管理に対応します。

マルチタスク並列処理

リアルタイム監視と即時フィードバックに対応

使いやすいHMIを備え

高い独立演算能力

同軸測定に対応した一体型設計により、光路校正が不要です。

取得データを活用し、より安定したプロセス条件の確立を支援します。

幅広い互換性

リモート制御に対応し、主要ブランドのレーザ発振器

・レーザヘッドにも適応できます。

外付け接続と内蔵組込みの両方に対応し、

多様な使用環境に適応します。

プロセス条件の標準化リアルタイム監視設備異常の兆候を早期に把握安定したプロセス条件の特定

新規設備の導入時には、ラインごとにパラメータの微調整が必要です。WDDで取得したデータを活用することで、プロセス条件を確認し、ライン間のばらつきを抑制できます。

異常カテゴリを迅速に特定し、問題診断にかかる時間を短縮します。

溶接欠陥の兆候を早期に捉え、プロセス監視とデータ解析により、生産品質向上に向けた判断を支援します。

より安定した溶接プロセスパラメータを特定し、溶込み深さのCPK向上とプロセス許容幅の拡大に貢献します。

*以上は完全には挙げていませんが、より多くのタイプはお

適用レーザ出力	20 W～20 kW
検出波長範囲	400 nm～1800 nm
センサ信号の種類	可視光、後方反射光、赤外熱放射光、レーザ出力フィードバック
センサタイプ	カメラ（CCD）、分光器
対応レーザ光源	ファイバーレーザ、ディスクレーザ、半導体レーザ、YAGレーザ、青色レーザ、パルスレーザ、ARMレーザ（リングモードレーザ）
対応レーザヘッド	固定焦点式ヘッド、ウォブリングヘッド、スキャナヘッド
保護構造	IP65
サンプリング周波数	1～200 kHz
通信プロトコル	TCP/IP
インターフェース	ギガビットイーサネット
電源	±15 V
検出可能な欠陥	溶込み不良、焼け抜け（溶落ち）、スパッタ、レーザ出力異常、表面汚染、シールドガス異常、デフォーカス異常
動作周囲温度	+5 ℃～+55 ℃
相対湿度	90%RH未満
質量	約2.4 kg（光路校正モジュールを含む）